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便携式残余奥氏体检测仪根据的是布拉格定律，使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体。
便携式残余奥氏体检测仪设计主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。
技术指标：
电缆线：标准配置为5米
电源：100-240 VAC，50/60Hz，600V
尺寸：主控单元 X3003：552x413x254mm
测角仪 G3：555x492x574mm
测角仪 G3R：966x573x605mm
主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，它以计算机为中央微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠，不需要水冷，方便安装和移动使用，系统超高灵敏度，适合测量的材料范围广，配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力，便携方便，可在实验室和野外现场测量。
X射线残余应力分析仪主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。
更多信息：残余奥氏体检测仪
http://www.bjhuaou.com/Products-35071642.html
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